测量投影仪的原理及使用方法,注意事项
投影仪工作原理如图1所示,被测工件Y置于工作台上,在透射或反射照明下,它由物镜0成放大实像Y′(倒像)并经光镜M1与M2反射于投影屏P的磨沙面上。当反光镜M1换成反像系统后,Y′即成为反像,一个与工件完全反向的影像,CM-300-C/D反像投影仪在屏上可用标准玻璃工作尺对Y′进行测量，也可以用预先绘制好的标准放大图对它进行比较测。测得的数值除以物镜的放大倍数即是工件的测量尺寸。还可以利用工作台上的数位测量系统对工件Y进行座标测量；也可利用投影屏旋转角度数显系统对工件的角度进行测量。
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